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國立交通大學 材料科學與工程學系所
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掃描探針顯微鏡
設備介紹
位置:工程六館EF212
儀器廠牌:Veeco
購置年限:2010年12月
用途:材料表面微結構,磁區分布等分析
服務項目:
基本:表面形貌分析(Surface morphology), 表面粗糙度(Surface roughness)
進階:STM (穿隧電流顯微鏡) ,MFM (磁力顯微鏡) ,SEPM (表面電位顯微鏡), EFM (電場力顯微鏡),
CAFM (導電性原子力顯微鏡) ,Liquid Contact Mode & Tapping Mode (液相原子力顯微鏡)