Facilities/儀器設備

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穿透式電子顯微鏡及能量散布分析儀
    • 位置:工程六館EF106
    • 儀器廠牌:Philips、TECNAI 20
    • 購置年限:2000年12月
    • 用途:金屬、無機非金屬材料、陶瓷材料和各種奈米材料進行透射電子顯微影像,高分辨像,電子繞射等分析
    • 服務項目:
      TEM:材料試片之微細組織,晶體結構之缺陷觀察,擇區繞射定結晶結構。
      EDS:原子序大於B的元素定性與半定量分析。
      EELS:輕元素定性與半定量分析,能量過濾影像。