• 位置：工程六館EF106
• 儀器廠牌：Philips、TECNAI 20
• 購置年限：2000年12月
• 用途：金屬、無機非金屬材料、陶瓷材料和各種奈米材料進行透射電子顯微影像，高分辨像，電子繞射等分析
• 服務項目：

　　TEM：材料試片之微細組織，晶體結構之缺陷觀察，擇區繞射定結晶結構。
　　EDS：原子序大於B的元素定性與半定量分析。
　　EELS：輕元素定性與半定量分析，能量過濾影像。