• 位置：工程六館EF107
• 儀器廠牌：JEOL JSM-2100
• 購置年限：2007年09月
• 用途：具有穿透及掃描功能，可作各種固體材料微細組織，晶體結構及缺陷之顯微觀察分析。
• 服務項目：

　　顯微觀察分析      　　
　　微束繞射分析    　　
　　高解析成像分析 　　
　　沖洗底片 

一般學術單位：4500元/3hr，照相200元，繞射(數位)1000元
廠商及研究單位：5500元/3hr，照相300元，繞射(數位)1200元