Facilities/儀器設備

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X光繞射儀
    • 位置:工程六館EF101
    • 儀器廠牌:BRUKER D2 PHASER
    • 購置年限:2010年05月
    • 用途:提供塊材粉末與薄膜之一般繞射分析,如晶相鑑定,結構解析。
    • 服務項目:
    1. 晶相鑑定與定量
    2. 結晶度知量測
    3. 晶相特性(晶體參數,晶粒和晶格應變)
    4. 晶體結構分析
    5. 針對多種尺寸樣本採用不同工業標準之載台 (φ 51.5 mm)
  • 一般學術單位:每件上機樣品1000元,X光及電腦運轉消耗每小時1000元。
    廠商及研究單位:每件上機樣品1200元,X光及電腦運轉消耗每小時1200元。

    備註:不接受具揮發性與毒性之試片之粉末試樣