-
- 位置:工程六館EF101
- 儀器廠牌:BRUKER D2 PHASER
- 購置年限:2010年05月
- 用途:提供塊材粉末與薄膜之一般繞射分析,如晶相鑑定,結構解析。
- 服務項目:
- 晶相鑑定與定量
- 結晶度知量測
- 晶相特性(晶體參數,晶粒和晶格應變)
- 晶體結構分析
- 針對多種尺寸樣本採用不同工業標準之載台 (φ 51.5 mm)
-
一般學術單位:每件上機樣品1000元,X光及電腦運轉消耗每小時1000元。
廠商及研究單位:每件上機樣品1200元,X光及電腦運轉消耗每小時1200元。
備註:不接受具揮發性與毒性之試片之粉末試樣