• 位置：工程六館EF101
• 儀器廠牌：BRUKER D2 PHASER
• 購置年限：2010年05月
• 用途：提供塊材粉末與薄膜之一般繞射分析，如晶相鑑定，結構解析。
• 服務項目：

1. 晶相鑑定與定量
2. 結晶度知量測
3. 晶相特性(晶體參數，晶粒和晶格應變)
4. 晶體結構分析
5. 針對多種尺寸樣本採用不同工業標準之載台 (φ 51.5 mm)

一般學術單位：每件上機樣品1000元，X光及電腦運轉消耗每小時1000元。
廠商及研究單位：每件上機樣品1200元，X光及電腦運轉消耗每小時1200元。

備註：不接受具揮發性與毒性之試片之粉末試樣