• 位置：工程六館EF101
• 儀器廠牌：D8 DISCOVER
• 購置年限：2010年05月
• 用途：以非破壞性檢測各式材料的晶體結構分析，加以探討材料性質的變化
• 服務項目：

1. 極圖 (pole figure)量測分析
2.  結晶方位分布函數計算
3.  ω-2θ，ω，2θ，Phi，Chi繞射分析
4. X光低掠角繞射分析 (Grazing incidence X-Ray Diffraction)
5. 高解析磊晶繞射分析(HRXRD)
6. X光反射率 (X-Ray Reflectometry)量測及厚度模擬分析
7. 多晶塊材及粉末繞射分析
8. 樣品座變溫裝置系統

一般學術單位：3000元/hr
廠商及研究單位：4000元/hr

備註：試片最大面積可以到直徑10.0cm，不得低於1.0cm×1.0cm，高度不得超過3mm。必須對試片結構有一定的瞭解，包括基材、薄膜之大約厚度、成分、密度等。不接受具揮發性與毒性之試樣。